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华科便携式测试仪 大功率IGBT测试仪现货供应
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发布时间: 2023-04-25 11:00
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详细信息

4验收和测试3)验收试验应在-10~40℃环境温度下进行,验收完成后测试平台及外部组件和装置均应安装在买方的位置上。
4)测试单元发货到买方前,卖方应进行出厂试验。
卖方出厂试验详细方案应提前提交买方评估,通过买方评估合格后实施方可视为有效试验。
否则,需按买方提出的修改意见重新制定出厂试验方案,直至买方评估合格。


开通特性测试采用双脉冲测试法。
由计算机设定并控制输出集电极电压VCC值到被测器件的测试要求值(一般为被测器件额定电压的1/2),设定±VGG到测试要求值,大功率IGBT测试仪批发,计算机控制接通开关S1,并控制输出被测双脉冲触发信号,开通和关断被测器件两次,被测器件次开通后,集电极电流IC上升,直至被测器件饱和导通且IC达到测试规定值时,关断被测器件(设为t1时刻),大功率IGBT测试仪厂家,之后电感L经二极管(Q1内部二极管)续流,IC迅速减小,直至IC降为零时,第二次开通被测器件(设为t2时刻),此后电感L中的电流向IC转移,IC迅速上升(若L足够大,t1~t2间隔足够短,L中的电流可视为恒流),直至被测器件再次达到饱和导通时(设为t3时刻),关断被测器件。
记录下被测器件IC、VCE以及VGE在t2~t3之间的导通波形,其中,VCE采样到示波器的CH1通道,IC取样到示波器的CH2通道,广东大功率IGBT测试仪,VGE采样到示波器的CH3通道,示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机,大功率IGBT测试仪现货供应,由计算机对测试波形进行分析与计算,后显示测试结果。


华科智源IGBT测试仪制造标准华科智源IGBT测试仪HUSTEC-1200A-MT除满足本技术规格书的要求外,在其设计、制造、试验、检定等制程中还应满足以下标准的版本。
GB/T 半导体器件分立器件第9 部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)GB 用电安全导则GB 国家电器设备安全技术规范GB 外壳防护等级(IP 代码)(IEC 60529:2001,IDT)GB/T 包装储运图示标志GB/T 电工设备结构总技术条件GB/T 2423 电工电子产品环境试验GB/T 电气控制设备GB/T 4588.3-2002 印制板的设计和使用GB/T 工业产品使用说明书总则GB/T 电气技术用文件的编制GB/T 3859.3 半导体变流器变压器和电抗器GB/T 半导体器件分立器件和集成电路第2 部分:整流二极管


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